半导体分立器件静态参数测试仪系统
栏目：公司新闻 发布时间：2024-05-02
（对失效器件进行测试分析，查找失效机理。以便于对电子整机的整体设计和使用过程提出改善方案） 3、选型配对（在器件焊接至电路板之前进行全部测试，将测试数据比较一致的器件进行分类配对） 4、来料检验（研究所及电子厂的质量部（IQC）对入厂器件进行抽检/全检，把控器件的良品率） 5、量产测试（可连接机械手、扫码枪、分选机等各类辅助机械设备，实现规模化、自动化测试） 主营产品：半导体分立器件静
（对失效器件进行测试分析，查找失效机理。以便于对电子整机的整体设计和使用过程提出改善方案）
3、选型配对（在器件焊接至电路板之前进行全部测试，将测试数据比较一致的器件进行分类配对）
4、来料检验（研究所及电子厂的质量部（IQC）对入厂器件进行抽检/全检，把控器件的良品率）
5、量产测试（可连接机械手、扫码枪、分选机等各类辅助机械设备，实现规模化、自动化测试）
主营产品：半导体分立器件静态动态参数测试系统，IGBT静态动态参数特性测试设备